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日本INTECS目视检查用卤素光源装置UIH-1H抛光晶片雾度照明装置,用于目测
日本INTECS卤素灯光源装置UIH-1C用于目视检查的超亮照明装置将高强度的光照射到物体(* 1)时,会发生倾斜现象,并且可以轻松地从视觉上确认表面上的划痕和...
日本INTECS卤素光源装置卤素灯UIH-2D超高輝度検査用照明装置(UIH-2D型)一般的に半導体ウエハーやマスクガラス等の目視検査で、傷やごみ、内部異物や気...
UIH-3D卤素灯光源装置日本INTECS一种用于无损测量半导体晶片横截面形状尺寸的设备。您可以测量晶圆边缘的尺寸,角度和半径
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